廣泛應用于各種材料結構分(fēn)析的各個領域。分(fēn)析的材料包括：金屬材料、無機(jī)材料、複合材料、有機(jī)材料、納米材料、超導材料。可(kě)以分(fēn)析的材料狀态包括：粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區微量樣品。廣泛應用于粘土(tǔ)礦物、水泥建材、環境粉塵、化工(gōng)制品、藥品、石棉、岩礦、聚合物等研究領域采用強大(dà)的多毛細管平行光(guāng)束系統，可(kě)對應凹凸不同的樣品的分(fēn)析，擴大(dà)應用範圍。技術(shù)參數1. X射線發生(shēng)器：銅靶或钼靶，功率50W（工(gōng)作(zuò)電壓
我司自(zì)主研制的高端X射線衍射儀配備高穩定性X射線源、高性能陣列探測器，可(kě)以在相(xiàng)對短(duǎn)的時間内獲取極爲準确的的衍射譜圖，可(kě)廣泛應用于各種材料結構分(fēn)析的各個領域。分(fēn)析的材料包括：金屬材料、無機(jī)材料、複合材料、有機(jī)材料、納米材料、超導材料。可(kě)以分(fēn)析的材料狀态包括：粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區微量樣品。廣泛應用于粘土(tǔ)礦物、水泥建材、環境粉塵、化工(gōng)制品、藥品、石棉、岩礦、聚合物等研究領域。
技術(shù)參數
1. 高穩定性X射線源：Cu靶或Mo靶，功率50W（工(gōng)作(zuò)電壓50KV、工(gōng)作(zuò)電流1mA）
2. 多毛細管：準直度0.25°，焦斑直徑0.5mm，光(guāng)強>10^8ph/s，采用強大(dà)的多毛細管平行光(guāng)束系統，可(kě)對應凹凸不同的樣品的分(fēn)析，擴大(dà)應用範圍。
3. 兩軸薄膜樣品台：Omega軸範圍-10°~10°，精度0.0025°；Z軸範圍0-14mm，精度0.0025mm
4. 高性能陣列探測器
5. 可(kě)以配備透射樣品台、原位薄膜熱(rè)台、原位溶劑氣氛處理(lǐ)附件(jiàn)等
6. X射線源、二維陣列探測器可(kě)根據需求升級
